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    • +86(512) 6741 2701  brad.liu@crest-group.net
    AW?系列
    容量大,產能高,靈敏度高
    AW?系列

    AWTM系列產品是專門為粘合晶圓及硅片設計的全自動 C-SAM®系統,容量大,產能高,靈敏度高。通常用來檢 測SOI,MEMS等晶圓。由于這些材料對超聲波幾乎是透明 的,Sonoscan利用自己專門研制的高頻探頭進行分析, 以獲取最精細的圖像。AW系列能夠探測直徑小于5微米 的空洞和薄如200埃的分層。

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    D24?
    半自動產線設備
    D24?

    D24™是一種半自動產線設備,能夠掃描610mm x 457 mm (24inx 18 in)的印刷電路板及樣品,也可以同時掃描 6個JEDEC盤。除了能進行特大面積掃描,D24還兼具 Sonoscan高端實驗設備特有的耐用性和準確性。此外, 即使在操作員不在場的情況下,分析也能照常進行,這使 得操作員能同時兼顧其他任務。

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    Gen 6?
    最新一代的超聲掃描顯微鏡
    Gen 6?

    Gen 6™
    最新一代的超聲掃描顯微鏡Gen6™ 汲取了Gen5™的精 華(如高端技術、先進功能,雅致的外觀及人體工程學設 計等),同時對其他的功能進行改進,將超聲顯微成像技 術提升到新的水平。Gen6所具備的功能最為廣泛,能適 用于無損失效分析、工藝改進、研發、高可靠性認證以及 中等產量篩選等,因此能充分地滿足您所有的需要。

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    D9?系列
    C-SAM儀器現代化的標準
    D9?系列

    在D9™系列代表著實驗室的C-SAM儀器現代化的標準,專業從事失效分析,工藝開發,材料特性和小批量生產檢查。充分裝載了當今最先進的軟件,這些儀器包括健全和準確的掃描功能和廣泛的用戶便利,以提高實驗室的聲學顯微鏡的性能水平。該D9系列在反射和透射模式下工作,以確保所有類型的缺陷被正確提供最高質量的聲學圖像識別。

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    FastLine? P300
    提高生產車間內微電子元器件的篩查效率
    FastLine? P300

    為了提高生產車間內微電子元器件的篩查效率,Sonoscan® 專門設計了FastLine™ P300™超聲掃描顯微鏡。作為超聲顯 微成像技術的新平臺,FastLine的緊湊設計縮小了占地空 間,其獨特的輸送系統能夠在掃描一個JEDEC托盤或樣品 盤的同時將下一次要掃描的樣品放在水中的另一個托盤上 等待掃描。

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    FACTS2?
    最先進的自動超聲掃描檢測
    FACTS2?

    FACTS2 為質量控制及工藝過程監測提供最先進的自動超 聲掃描檢測。只需操作員做極少的操作步驟,即可每小時 檢查高達10,000塊集成電路元件,在不降低生產量的前提 下確保了無缺陷生產。載有集成電路元件的JEDEC托盤可 一層一層摞起來,或作為在線生產過程的一個環節接受檢 測。另外,FACTS2 亦可處理多層陶瓷電容、倒裝芯片及 其他組件。

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    原油期货理财配资
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